Система топологической трассировки печатных плат TopoR


           

с параметрами сохранённых вариантов проекта


В таблице: в каждой строке с параметрами сохранённых вариантов проекта (.fsb-файлы) содержится наименование варианта, суммарная длина соединений, число переходных отверстий, число нарушений проектных норм, размер файла и дата создания файла.

 

 

 

Глава 2. Определение стиля разработки  (Design style editor)


       Последовательность действий:

- Выберите пункт меню <Mode>, затем "РЕДАКТОР СТИЛЯ РАЗРАБОТКИ" (Design style Editor) (рис. 2.1). Другой вариант – сразу кликнуть левой кнопкой мыши на пиктограмме 
  в тулбаре. 



Рис. 2.1 Выбор режима работы

Эти действия приведут к вызову панели опций редактора стиля разработки (рис. 2.2).

Рис. 2.2 Панель опций редактора стиля разработки

- Если ранее был создан CTL-файл для трассировки в системе P-CAD, то импортируйте из него данные через пункт меню "ИМПОРТ СТРАТЕГИИ";

- Назначьте слои и барьеры в пункте "НАЗНАЧЕНИЕ СЛОЕВ";

- Выберите трассировочные слои и их расположение (верхний /  нижний) на плате в пункте "ТРАССИРОВОЧНЫЕ СЛОИ";

- Определите контактные площадки в пункте "ОПИСАНИЕ КОНТАКТНЫХ ПЛОЩАДОК";

- Определите классы цепей и их параметры в пункте "КЛАССЫ ЦЕПЕЙ";

- Определите классы компонентов и их параметры в пункте "КЛАССЫ КОМПОНЕНТОВ".

TopoR  умеет извлекать описание формы контактных площадок из секции PAD_STACK PDIF-файла.

Описание стиля разработки хранится в файле проекта (<имя файла>.fsr).  Под стилем разработки понимаются некоторые соглашения, принимаемые для адаптации системы TopoR к внешней САПР. Здесь описываются данные, не заданные или не полностью заданные в PDIF-файле: форма контактных площадок, ширина проводников и величина зазоров, шаг перемещения элементов при их движении и др. Некоторые из этих данных можно найти в файле описания стратегии трассировки, другие являются новыми.


Содержание  Назад  Вперед





Forekc.ru
Рефераты, дипломы, курсовые, выпускные и квалификационные работы, диссертации, учебники, учебные пособия, лекции, методические пособия и рекомендации, программы и курсы обучения, публикации из профильных изданий